Méthodes dessai pour la construction de cartes à puce

CJ/T 243-2007 (Version anglaise)

Méthodes d'essai pour la construction de cartes à puce

Numéro de norme : CJ/T 243-2007
Langue : Chinois, Également disponible en anglais
Date de publication : 2007
Organisation : Professional Standard - Urban Construction
Statut : remplacé 2016-12

Champ d'application

Cette norme spécifie les essais des cartes à circuit intégré (CI) dans le secteur de la construction, notamment les cartes à contact, les cartes sans contact, les cartes à double interface et les terminaux de cartes à circuit intégré, ainsi que les essais d'application des terminaux de compteurs à carte à chiffrement logique, des terminaux de compteurs à carte CPU et des terminaux de cartes à circuit intégré grand public et de service. Cette norme s'applique aux essais des cartes à circuit intégré dans les domaines d'application suivants : transports publics, taxis, transport ferroviaire (métro, tramway), ferries, gaz, eau, chauffage, communautés numériques, péages routiers et de ponts, parkings, parcs d'attractions, etc.
Versions et remplacements

Remplacé par

Version la plus récente

Références normatives
  • GB 2099.1 Fiches et prises de courant à usages domestiques et analogues - Partie 1 : Exigences générales * 2009-08-01 Mis à jour
  • GB 4943-2001 Sécurité des équipements informatiques
  • GB 9254-1998 Équipements informatiques - Caractéristiques des perturbations radioélectriques - Limites et méthodes de mesure
  • GB/T 14916-2006 Cartes d'identité - Caractéristiques physiques
  • GB/T 16649.1-2006 Cartes d'identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts - Partie 1 : Caractéristiques physiques
  • GB/T 16649.2-2006 Cartes d'identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts - Partie 2 : Dimensions et emplacement des contacts
  • GB/T 16649.3-2006 Cartes d'identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts - Partie 3 : Signaux électroniques et protocoles de transmission
  • GB/T 17554.1 Méthodes d'essai pour cartes et dispositifs de sécurité d'identité Partie 1 : Caractéristiques générales * 2025-02-28 Mis à jour
  • GB/T 2423.1-2001 Essais environnementaux pour les produits électriques et électroniques Partie 2 : Méthodes d'essai Essais A : Froid
  • GB/T 2423.10-1995 Essais environnementaux pour produits électriques et électroniques. Partie 2 : Méthodes d'essai. Test Fc et guide : Vibrations (sinusoïdales)
  • GB/T 2423.2-2001 Essais environnementaux pour les produits électriques et électroniques Partie 2 : Méthodes d'essai Essais B : Chaleur sèche
  • GB/T 2423.3-2006 Essais environnementaux pour produits électriques et électroniques - Partie 2 : Méthode d'essai - Cabine d'essai : Chaleur humide, état stable
  • GB/T 2423.5-1995 Essais environnementaux pour produits électriques et électroniques. Partie 2 : Méthodes d'essai. Essai Ea et guide : Chocs.
  • GB/T 2423.6-1995 Essais environnementaux pour produits électriques et électroniques. Partie 2 : Méthodes d'essai. Essai Eb et guide : Test de résistance au choc.
  • GB/T 4857.2-2005 Emballage - Essais de base pour les emballages de transport - Partie 2 : Conditionnement en température et en humidité
  • GB/T 4857.5-1992 Emballages - Emballages de transport - Méthode d'essai d'impact vertical par chute
Historique des publications
  • 2016 CJ/T 243-2016 Tests de produits de cartes à circuit intégré (CI) pour les entreprises de construction
  • 2007 CJ/T 243-2007 Méthodes d'essai pour la construction de cartes à puce

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